什么是測長機？
發布時間：2019-05-12 點擊次數：次
以線紋尺的刻度（Scale)或光波波長作為已知長度，利用機械（machinery）測頭進行接觸測量(cè liáng)的光學長度測量工具。測長機具有能在3個坐標內移動和2個坐標內轉動的可調工作(job)臺，還帶有不同測頭和附件，常用于檢定大尺寸量塊和測量多種工件的內、外尺寸。
以線紋尺的刻度（Scale)或光波波長作為已知長度，利用機械（machinery）測頭進行接觸測量(cè liáng)的光學長度測量工具?？椢锼毫褍x適用于各種機織物、非織造布、涂層織物的抗撕裂測定。機定伸長、定負荷、服裝縫口脫開程度、縫線滑移、針織品掖下接縫及縫紉線、單紗的檢測。也可用于拉鏈、金屬、紙張、非織造布、線材、皮革和伸長率的測試?？椢锼毫褍x試驗儀屬擺錘型，試樣被夾持在兩個夾持器之間，一只夾持器可動，另一只固定在機架上，擺錘受重力作用落下，移動夾持器附在擺錘上，試驗時擺錘撕破試樣但又不與試樣接觸。測長機具有能在3個坐標內移動和2個坐標內轉動的可調工作(job)臺，還帶有不同測頭和附件，常用于檢定大尺寸量塊和測量多種工件的內、外尺寸。 以線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度，利用機械測頭進行接觸測量的光學長度測量工具。測長機具有能在3個坐標內移動和2個坐標內轉動的可調工作臺，還帶有不同測頭和附件，常用于檢定大尺寸量塊和測量多種工件的內、外尺寸。測長機有米、3米、6米和6米以上等幾種測量范圍(fàn wéi)，分度值通常為微米。為求結構(Structure)緊湊，多數測長機不采用阿貝原則（見長度測量工具），而采用愛賓斯坦光學系統(system)。這種光學系統能自動補償由于滑軌(TTW guide)直線度誤差引起的測量誤差。 測量范圍(fàn wéi)在米以內的習慣上稱為測長儀，它利用讀數顯微鏡和帶有線紋尺的測量軸組成的測量系統（習慣上稱為阿貝頭）進行接觸測量。阿貝頭的示值范圍(fàn wéi)一般為 00毫米。測長儀有立式和臥式兩種。它的結構設計(Design)一般符合阿貝原則，故通常也稱為阿貝測長儀。立式測長儀和臥式測長儀的測量范圍(fàn wéi)通常分別不大于250毫米和600毫米(測量范圍(fàn wéi)大于00毫米時需要用量塊調整零位)。前者主要用于測量外尺寸,后者主要用于測量較大工件或在立式測長儀上不易定位的工件如圓盤等的內、外尺寸等。
